电子系统测试原理
基本信息·出版社：机械工业出版社 ·页码：296 页 ·出版日期：2007年01月 ·ISBN：7111198085/9787111198086 ·条形码：9787111198086 ·版本：第1版 · ...
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基本信息·出版社：机械工业出版社
·页码：296 页
·出版日期：2007年01月
·ISBN：7111198085/9787111198086
·条形码：9787111198086
·版本：第1版
·装帧：平装
·开本：16开 Pages Per Sheet
·丛书名：电子与电气工程丛书
·图书品牌：华章图书
内容简介 本书全面阐述了电子系统测试原理，共分为五个部分，第1部分介绍本书的目的、电子产品的缺陷种类、VLSI设计表示与设计流程；第II部分介绍故障模拟、测试码产生及电流测试方法；第III部分讨论易测性设计问题，分别介绍专用技术、路径扫描设计、边界扫描测试和内建自测试技术；第IV部分介绍特殊结构的测试，包括存储器、FPGA和微处理器的测试；第v部分涉及当前电子系统测试领域中的前沿问题，包括如何实现易测试性结构和进行SOC试。
本书可作为电子信息类专业研究生教材和IC测试工程技术人员的参考书。
作者简介 Samiha Mourad博士是加利福尼亚圣克拉拉大学电子工程系教授。Yervant Zorian博士是加利福尼亚圣何塞Logic Vision公司的首席技术顾问。
编辑推荐 本书全面阐述了电子系统测试原理，共分为五个部分，第1部分介绍本书的目的、电子产品的缺陷种类、VLSI设计表示与设计流程；第II部分介绍故障模拟、测试码产生及电流测试方法；第III部分讨论易测性设计问题，分别介绍专用技术、路径扫描设计、边界扫描测试和内建自测试技术；第IV部分介绍特殊结构的测试，包括存储器、FPGA和微处理器的测试；第v部分涉及当前电子系统测试领域中的前沿问题，包括如何实现易测试性结构和进行SOC试。
本书可作为电子信息类专业研究生教材和IC测试工程技术人员的参考书。
目录 第I部分 设计与测试
第1章 测试综述
1.1 可靠性与测试
1.2 设计过程
1.3 验证
1.3.1 功能模拟
……
